冷熱臺(tái)可用于顯微鏡、倒置顯微鏡、紅外光譜儀、拉曼儀、X射線等儀器。適用高分子/液晶、材料、光譜學(xué)、生物、醫(yī)藥、地質(zhì)、 食品、冷凍干燥、 X光衍射等領(lǐng)域應(yīng)用。
原理及應(yīng)用：冷熱臺(tái)和高溫臺(tái)，結(jié)合研究級(jí)巖相學(xué)顯微鏡使用，可以直接原位觀察在加溫或冷凍過程中樣品（如：流體包裹體、熔體包裹體）相態(tài)的變化，測(cè)定相變溫度，進(jìn)而獲得相關(guān)的物理化學(xué)參數(shù)。
冷熱臺(tái)主要包括臺(tái)體、控溫系統(tǒng)和液氮冷卻系統(tǒng)；熱臺(tái)主要包括臺(tái)體、控溫系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)和循環(huán)水系統(tǒng)。本實(shí)驗(yàn)室擁有的多套研究級(jí)巖相學(xué)顯微鏡，包括透射/反射兩用光學(xué)系統(tǒng)和攝像（照相）系統(tǒng)，通過將冷熱臺(tái)和熱臺(tái)配備于顯微鏡上實(shí)現(xiàn)樣品相變及相變溫度的觀測(cè)。
主要用于：
?。?）脈石礦物（如：石英、螢石、方解石）和礦石礦物（如：閃鋅礦、黑鎢礦、黃鐵礦）中流體包裹體均一溫度、低溫相變溫度的jing確測(cè)定，進(jìn)而利用包裹體低溫相變溫度確定包裹體成分；
（2）巖漿系統(tǒng)礦物中熔融包裹體均一化過程及均一化溫度的jing確測(cè)定。
